晶振負電阻的啟動特性是什么?負電阻如何測量?
來源：http://www.element79mechanical.com 作者：億金電子 2019年08月16
晶振負電阻的啟動特性是什么?負電阻如何測量?
存在一種使用AGC(自動增益控制)功能的IC僅在晶體振蕩器開始振蕩時增加增益(下文中簡稱為啟動).在使用這種IC的振蕩電路的情況下,晶振啟動時的負電阻通常大于穩(wěn)態(tài)時的負電阻.因此,在使用上述類型的IC的振蕩電路的情況下,不僅測量 和評估穩(wěn)態(tài)下的負電阻而且啟動時的負電阻.
在這種情況下的判斷是基于“啟動時的負電阻”是否確保了目標值.(如果啟動時的負電阻滿足目標,則振蕩啟動有足夠的余量.即使穩(wěn)態(tài)下的負電阻不能確保目標值,石英晶體單元的負載下的等效電阻也是如此,這是因為如果相對于RL足夠大,則可以在啟動之后保持振蕩.)
接下來,將描述石英貼片晶振用于在啟動時測量負電阻的方法.增益大的時間(負電阻開始的時間)通常為幾毫秒或更短,因此難以用頻譜分析儀測量(參考:晶振負阻力測量).因此,使用示波器的測量方法用于區(qū)分振蕩和非振蕩.程序如下.
1、在將電源電壓施加到電路之前,將電阻器(Rx)與晶振晶體單元串聯(lián)插入.
2、對電路影響最小的電壓探針與振蕩單元接觸.
3、在電路上施加電源電壓,用示波器觀察啟動狀態(tài)(參見下圖).
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4、通過逐漸增加Rx并重復(fù)項目1至3,在啟動時可以確認振蕩的臨界點處搜索電阻值.
通過將石英晶體諧振器的負載等效電阻RL與電阻值相加而獲得的值是啟動時的負電阻值.
存在一種使用AGC(自動增益控制)功能的IC僅在晶體振蕩器開始振蕩時增加增益(下文中簡稱為啟動).在使用這種IC的振蕩電路的情況下,晶振啟動時的負電阻通常大于穩(wěn)態(tài)時的負電阻.因此,在使用上述類型的IC的振蕩電路的情況下,不僅測量 和評估穩(wěn)態(tài)下的負電阻而且啟動時的負電阻.
在這種情況下的判斷是基于“啟動時的負電阻”是否確保了目標值.(如果啟動時的負電阻滿足目標,則振蕩啟動有足夠的余量.即使穩(wěn)態(tài)下的負電阻不能確保目標值,石英晶體單元的負載下的等效電阻也是如此,這是因為如果相對于RL足夠大,則可以在啟動之后保持振蕩.)
接下來,將描述石英貼片晶振用于在啟動時測量負電阻的方法.增益大的時間(負電阻開始的時間)通常為幾毫秒或更短,因此難以用頻譜分析儀測量(參考:晶振負阻力測量).因此,使用示波器的測量方法用于區(qū)分振蕩和非振蕩.程序如下.
1、在將電源電壓施加到電路之前,將電阻器(Rx)與晶振晶體單元串聯(lián)插入.
2、對電路影響最小的電壓探針與振蕩單元接觸.
3、在電路上施加電源電壓,用示波器觀察啟動狀態(tài)(參見下圖).
通過將石英晶體諧振器的負載等效電阻RL與電阻值相加而獲得的值是啟動時的負電阻值.
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